Diodes and ESD Protections Capacitive Effects: Time-Domain Measurements and Modeling

Bruno Ben M'Hamed; François Torres; Alain Reineix; P. Hoffmann

Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Diodes and ESD Protections Capacitive Effects: Time-Domain Measurements and Modeling

(1) , (1) , (1) , (2)

1
2

Bruno Ben M'Hamed

Fonction : Auteur
PersonId : 920400

OSA

François Torres

Fonction : Auteur
PersonId : 6236
IdHAL : francois-torres
ORCID : 0000-0001-8798-9488
IdRef : 177252294

OSA

Alain Reineix

Fonction : Auteur
PersonId : 175041
IdHAL : alain-reineix
ORCID : 0000-0002-9439-6258

OSA

CV

P. Hoffmann

Fonction : Auteur

Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

Patricia Leroy : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00480634

Soumis le : mardi 4 mai 2010-16:07:06

Dernière modification le : mercredi 8 février 2023-17:10:49

Dates et versions

hal-00480634 , version 1 (04-05-2010)

Identifiants

HAL Id : hal-00480634 , version 1

Citer

Bruno Ben M'Hamed, François Torres, Alain Reineix, P. Hoffmann. Diodes and ESD Protections Capacitive Effects: Time-Domain Measurements and Modeling. EMC Compo 2009, IEEE 7th International Workshop on Electromagnetic Compatibility on Integrated Circuits (17-20 Novembre 2009 - Toulouse, Nov 2009, TOULOUSE, France. ⟨hal-00480634⟩

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