Spectroscopic Ellipsometry Study of Metal to Insulator Transition in Vanadium Dioxide Thin Films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Spectroscopic Ellipsometry Study of Metal to Insulator Transition in Vanadium Dioxide Thin Films

(1) , (1) , (1) , (2)
1
2
Jean-Christophe Orlianges
Axe 2 : procédés de traitements de surface
CV
Rafika Zaabi
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 949690
Axe 2 : procédés de traitements de surface
Corinne Champeaux
Axe 2 : procédés de traitements de surface
CV
Aurelian Crunteanu
MINACOM

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Matériaux Sciences de l'ingénieur [physics] Génie des procédés

Aurelian CRUNTEANU  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00911412

Soumis le : vendredi 29 novembre 2013-11:14:19

Dernière modification le : samedi 26 mars 2022-04:30:00

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00911412 , version 1 (29-11-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00911412 , version 1

Citer

Jean-Christophe Orlianges, Rafika Zaabi, Corinne Champeaux, Aurelian Crunteanu. Spectroscopic Ellipsometry Study of Metal to Insulator Transition in Vanadium Dioxide Thin Films. 2013 Materials Research Society, MRS Spring Meeting, Apr 2013, San Francisco, United States. poster presentation. ⟨hal-00911412⟩

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