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Communication dans un congrès

Spectroscopic Ellipsometry Study of Metal to Insulator Transition in Vanadium Dioxide Thin Films

Jean-Christophe Orlianges 1 Rafika Zaabi 1 Corinne Champeaux 1 Aurelian Crunteanu 2 
1 Axe 2 : procédés de traitements de surface
SPCTS - Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface
2 XLIM-MINACOM - MINACOM
XLIM - XLIM
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00911412
Contributeur : Aurelian CRUNTEANU Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : vendredi 29 novembre 2013 - 11:14:19
Dernière modification le : samedi 26 mars 2022 - 04:30:00

Identifiants

  • HAL Id : hal-00911412, version 1

Collections

UNILIM | CNRS | SPCTS | SPCTS-AXE2 | XLIM | IPAM | INC-CNRS | IRCER | IRCER-AXE2 | IMPEO

Citation

Jean-Christophe Orlianges, Rafika Zaabi, Corinne Champeaux, Aurelian Crunteanu. Spectroscopic Ellipsometry Study of Metal to Insulator Transition in Vanadium Dioxide Thin Films. 2013 Materials Research Society, MRS Spring Meeting, Apr 2013, San Francisco, United States. poster presentation. ⟨hal-00911412⟩

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