Spectroscopic Ellipsometry Study of Metal to Insulator Transition in Vanadium Dioxide Thin Films

Jean-Christophe Orlianges 1 Rafika Zaabi 1 Corinne Champeaux 1 Aurelian Crunteanu 2
1 Axe 2 : procédés de traitements de surface
SPCTS - Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface
2 XLIM-MINACOM - MINACOM
XLIM - XLIM
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00911412
Contributeur : Aurelian Crunteanu <>
Soumis le : vendredi 29 novembre 2013 - 11:14:19
Dernière modification le : mardi 12 novembre 2019 - 14:06:03

Identifiants

  • HAL Id : hal-00911412, version 1

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Citation

Jean-Christophe Orlianges, Rafika Zaabi, Corinne Champeaux, Aurelian Crunteanu. Spectroscopic Ellipsometry Study of Metal to Insulator Transition in Vanadium Dioxide Thin Films. 2013 Materials Research Society, MRS Spring Meeting, Apr 2013, San Francisco, United States. poster presentation. ⟨hal-00911412⟩

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