A Comparison of 2-D Simulations and Measurements of Low Frequency Noise on InGaP/GaAs HBT Transistors at Low and High Level Injection

Khaled Abdelhadi; Ahmad Al Hajjar; Jean-Christophe Nallatamby; Jean-Claude Jacquet; Sylvain Delage; Michel Prigent; Didier Floriot

Communication dans un congrès

A Comparison of 2-D Simulations and Measurements of Low Frequency Noise on InGaP/GaAs HBT Transistors at Low and High Level Injection

Khaled Abdelhadi ¹ Ahmad Al Hajjar ¹ Jean-Christophe Nallatamby ² Jean-Claude Jacquet ³ Sylvain Delage ³ Michel Prigent ¹ Didier Floriot ⁴

1 XLIM-C2S2 - C2S2

XLIM - XLIM

2 XLIM - XLIM

3 III-V Lab - Alcatel-Thalès III-V lab

4 UMS

Type de document :

Communication dans un congrès

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00914665
Contributeur : Jean-Christophe Nallatamby Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : jeudi 5 décembre 2013 - 18:36:52
Dernière modification le : lundi 4 avril 2022 - 16:22:02

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