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Communication dans un congrès
A Comparison of 2-D Simulations and Measurements of Low Frequency Noise on InGaP/GaAs HBT Transistors at Low and High Level Injection
Khaled Abdelhadi
1
Ahmad Al Hajjar
1
Jean-Christophe Nallatamby
2
Jean-Claude Jacquet
3
Sylvain Delage
3
Michel Prigent
1
Didier Floriot
4
Khaled Abdelhadi 1
Auteur
Ahmad Al Hajjar 1
Auteur
Jean-Christophe Nallatamby 2
Auteur IdHAL : jean-christophe-nallatamby ORCID : https://orcid.org/0000-0002-5082-3932
Jean-Claude Jacquet 3
Auteur
1
XLIM-C2S2 - C2S2 (France)
- XLIM - XLIM (123 Avenue Albert THOMAS 87060 LIMOGES CEDEX - France)
- UNILIM - Université de Limoges : UMR7252 (33 rue François Mitterrand BP23204 87032 Limoges - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7252 (France)
2
XLIM - XLIM (123 Avenue Albert THOMAS 87060 LIMOGES CEDEX - France)
- UNILIM - Université de Limoges : UMR7252 (33 rue François Mitterrand BP23204 87032 Limoges - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7252 (France)
3
III-V Lab - Alcatel-Thalès III-V lab (Route de Nozay, 91461 Marcoussis Cedex - France)
Type de document :
Communication dans un congrès
Domaine :
Liste complète des métadonnées
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00914665
Contributeur : Jean-Christophe Nallatamby <>
Soumis le : jeudi 5 décembre 2013 - 18:36:52
Dernière modification le : samedi 2 mai 2020 - 16:58:02
Contributeur : Jean-Christophe Nallatamby <>
Soumis le : jeudi 5 décembre 2013 - 18:36:52
Dernière modification le : samedi 2 mai 2020 - 16:58:02
Identifiants
- HAL Id : hal-00914665, version 1
Citation
Khaled Abdelhadi, Ahmad Al Hajjar, Jean-Christophe Nallatamby, Jean-Claude Jacquet, Sylvain Delage, et al.. A Comparison of 2-D Simulations and Measurements of Low Frequency Noise on InGaP/GaAs HBT Transistors at Low and High Level Injection. International Conference on Noise and Fluctuations, Jun 2013, Montpellier, France. ⟨hal-00914665⟩
Métriques
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