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Spatial qualification tests for highly selective compact micro machined band pass planar filters

Raghida Hajj 1 Matthieu Chatras 1 Pierre Blondy 1 Olivier Vendier 2 W. Tschanun Frédéric Courtade 3 
1 XLIM-MINACOM - MINACOM
XLIM - XLIM
2 TAS - Thales Alenia Space [Toulouse]
3 CNES - Centre National d'Études Spatiales [Toulouse]
Type de document :
Article dans une revue
Liste complète des métadonnées
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00915221
Contributeur : Matthieu Chatras Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : vendredi 6 décembre 2013 - 17:32:33
Dernière modification le : lundi 4 avril 2022 - 16:16:04

Identifiants

  • HAL Id : hal-00915221, version 1

Collections

UNILIM | CNRS | XLIM

Citation

Raghida Hajj, Matthieu Chatras, Pierre Blondy, Olivier Vendier, W. Tschanun, et al.. Spatial qualification tests for highly selective compact micro machined band pass planar filters. International Journal of Microwave Science and Technology, Hindawi, 2012, pp.10. ⟨hal-00915221⟩

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