Caractérisation Large Bande de Matériaux Diélectriques par une Technique en Champ Proche

Jamal Rammal (1) , Olivier Tantot (1) , Nicolas Delhote (1) , Serge Verdeyme (1)

1 XLIM-MINACOM - MINACOM

Dans cet article est décrite une technique de microscopie en cham proche pour la caractérisation non destructive large bande [4 GHz - 16 GHz], d'échantillons diélectriques de forme géométrique quelconque mais ayant au moins une surface plane. Un câble coaxial dénudé à ses deux extrémités permet, d'un coté de jouer le rôle de sonde avec une pointe réduite à 70 μm de rayon et de l'autre, de prendre la forme d'une boucle magnétique dédiée à la perturbation des résonances en mode TMmnp de la cavité.

Domaines: Electromagnétisme

Jamal Rammal, Olivier Tantot, Nicolas Delhote, Serge Verdeyme. Caractérisation Large Bande de Matériaux Diélectriques par une Technique en Champ Proche. Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux (13èmes JCMM), Mar 2014, Nantes, France. pp._. ⟨hal-00929777⟩