Analyse quantitative de la microstructure de couches minces nanostructurées. Couplage, diffraction des rayons X en haute résolution et diffusion centrale des rayons X sous incidence rasante

René Guinebretière

Analyse quantitative de la microstructure de couches minces nanostructurées. Couplage, diffraction des rayons X en haute résolution et diffusion centrale des rayons X sous incidence rasante

René Guinebretière ¹

1 SPCTS-AXE3 - Axe 3 : organisation structurale multiéchelle des matériaux

SPCTS - Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface

Type de document :

Communication dans un congrès

Domaine :

Chimie / Matériaux

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https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00950343
Contributeur : Pamela Bathias <>
Soumis le : vendredi 21 février 2014 - 11:57:18
Dernière modification le : mercredi 14 février 2018 - 16:21:45

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