Analyse quantitative de la microstructure de couches minces nanostructurées. Couplage, diffraction des rayons X en haute résolution et diffusion centrale des rayons X sous incidence rasante

René Guinebretière 1
1 SPCTS-AXE3 - Axe 3 : organisation structurale multiéchelle des matériaux
SPCTS - Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface
Type de document :
Communication dans un congrès
Domaine :
Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00950343
Contributeur : Pamela Bathias <>
Soumis le : vendredi 21 février 2014 - 11:57:18
Dernière modification le : mercredi 14 février 2018 - 16:21:45

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  • HAL Id : hal-00950343, version 1

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René Guinebretière. Analyse quantitative de la microstructure de couches minces nanostructurées. Couplage, diffraction des rayons X en haute résolution et diffusion centrale des rayons X sous incidence rasante. Journées Nationales Nanosciences et Nanotechnologies (J3N 2013), Nov 2013, Marseille, France. ⟨hal-00950343⟩

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