Wideband Characterization of Dielectric Material by New Approaches Based on Near Field Microwave Microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Wideband Characterization of Dielectric Material by New Approaches Based on Near Field Microwave Microscopy

(1) , (1) , (1) , (1)
1
Jamal Rammal
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 948864
MINACOM
Olivier Tantot
MINACOM
CV
Nicolas Delhote
MINACOM
CV
Serge Verdeyme
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 915587
MINACOM

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electromagnétisme

Olivier Tantot  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00977970

Soumis le : vendredi 11 avril 2014-18:42:28

Dernière modification le : mercredi 22 décembre 2021-11:58:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00977970 , version 1 (11-04-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00977970 , version 1

Citer

Jamal Rammal, Olivier Tantot, Nicolas Delhote, Serge Verdeyme. Wideband Characterization of Dielectric Material by New Approaches Based on Near Field Microwave Microscopy. European Microwave Conference, Oct 2014, Rome, Italy. ⟨hal-00977970⟩

Exporter

BibTeX TEI Dublin Core DC Terms EndNote Datacite

Collections

UNILIM CNRS XLIM
47 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook Twitter LinkedIn More