Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

Jamal Rammal; Olivier Tantot; Nicolas Delhote; Serge Verdeyme

doi:10.1017/S175907871400110X

Article dans une revue

Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

Jamal Rammal ¹ Olivier Tantot Nicolas Delhote ¹ Serge Verdeyme ¹

1 XLIM-MINACOM - MINACOM

XLIM - XLIM

Keywords : Characterization Near-field Dielectric resonator Dielectric materials Multi-frequency

Type de document :

Article dans une revue

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electromagnétisme

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01060283
Contributeur : Olivier Tantot Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : mercredi 3 septembre 2014 - 12:14:23
Dernière modification le : mercredi 22 décembre 2021 - 11:58:04

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