Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

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Contributeur : Olivier Tantot <>
Soumis le : mercredi 3 septembre 2014 - 12:14:23
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:39

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Jamal Rammal, Olivier Tantot, Nicolas Delhote, Serge Verdeyme. Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials. International Journal of Microwave and Wireless Technologies, Cambridge University Press/European Microwave Association 2014, pp.1 - 6. ⟨10.1017/S175907871400110X⟩. ⟨hal-01060283⟩

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