Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

Jamal Rammal; Olivier Tantot; Nicolas Delhote; Serge Verdeyme

doi:10.1017/S175907871400110X

Article dans une revue

Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

Jamal Rammal ¹ Olivier Tantot Nicolas Delhote ¹ Serge Verdeyme ¹

1 XLIM-MINACOM - MINACOM

XLIM - XLIM

Keywords : Characterization Near-field Dielectric resonator Dielectric materials Multi-frequency

Type de document :

Article dans une revue

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electromagnétisme

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01060283
Contributeur : Olivier Tantot <>
Soumis le : mercredi 3 septembre 2014 - 12:14:23
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:39

Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Métriques

298

Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Partager

Métriques

298