Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

Jamal Rammal; Olivier Tantot; Nicolas Delhote; Serge Verdeyme

doi:10.1017/S175907871400110X

Article Dans Une Revue International Journal of Microwave and Wireless Technologies Année : 2014

Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

(1) , , (1) , (1)

1

Jamal Rammal

Fonction : Auteur
PersonId : 948864

MINACOM

Olivier Tantot

Fonction : Auteur
PersonId : 6496
IdHAL : olivier-tantot
IdRef : 169351319

CV

Nicolas Delhote

Fonction : Auteur
PersonId : 2672
IdHAL : nicolas-delhote
ORCID : 0000-0002-8280-4293
IdRef : 12300621X

MINACOM

CV

Serge Verdeyme

Fonction : Auteur
PersonId : 915587

MINACOM

Mots clés

Characterization Near-field Dielectric resonator Dielectric materials Multi-frequency

Domaines

Electromagnétisme

Olivier Tantot : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://unilim.hal.science/hal-01060283

Soumis le : mercredi 3 septembre 2014-12:14:23

Dernière modification le : vendredi 8 mars 2024-10:16:48

Dates et versions

hal-01060283 , version 1 (03-09-2014)

Identifiants

HAL Id : hal-01060283 , version 1
DOI : 10.1017/S175907871400110X

Citer

Jamal Rammal, Olivier Tantot, Nicolas Delhote, Serge Verdeyme. Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials. International Journal of Microwave and Wireless Technologies, 2014, pp.1 - 6. ⟨10.1017/S175907871400110X⟩. ⟨hal-01060283⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNILIM CNRS XLIM

79 Consultations

0 Téléchargements

Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials

Mots clés

Domaines

Dates et versions

Identifiants

Citer

Exporter

Collections

Altmetric

Partager