Article Dans Une Revue
International Journal of Microwave and Wireless Technologies
Année : 2014
Olivier Tantot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://unilim.hal.science/hal-01060283
Soumis le : mercredi 3 septembre 2014-12:14:23
Dernière modification le : vendredi 8 mars 2024-10:16:48
Citer
Jamal Rammal, Olivier Tantot, Nicolas Delhote, Serge Verdeyme. Near-field microwave microscopy for the characterization of dielectric materials. International Journal of Microwave and Wireless Technologies, 2014, pp.1 - 6. ⟨10.1017/S175907871400110X⟩. ⟨hal-01060283⟩
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