Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
Michel Campovecchio : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01070003
Soumis le : mardi 30 septembre 2014-12:36:13
Dernière modification le : mercredi 8 février 2023-17:10:56
Citer
Sandra Demeyer, Christophe Charbonniaud, Raymond Quéré, Michel Campovecchio, R. Lossy, et al.. Mechanism of Power Density Degradation due to Trapping Effects in AlGaN/GaN HEMTs. IEEE MTT-S, International Symposium on Microwave Theory and Techniques, Jun 2003, Philadelphia, PA, United States. pp. 455-458, ⟨10.1109/MWSYM.2003.1210974⟩. ⟨hal-01070003⟩
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