Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
Michel Campovecchio : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://unilim.hal.science/hal-01070003
Soumis le : mardi 30 septembre 2014-12:36:13
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:59
Citer
Sandra Demeyer, Christophe Charbonniaud, Raymond Quéré, Michel Campovecchio, R. Lossy, et al.. Mechanism of Power Density Degradation due to Trapping Effects in AlGaN/GaN HEMTs. IEEE MTT-S, International Symposium on Microwave Theory and Techniques, Jun 2003, Philadelphia, PA, United States. pp. 455-458, ⟨10.1109/MWSYM.2003.1210974⟩. ⟨hal-01070003⟩
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