Détection et caractérisation de pièges dans les transistors HEMTs GaN via l’étude de la dispersion en fréquence de la conductance de sortie

Clément Potier (1) , Audrey Martin (1) , Michel Campovecchio (1) , Olivier Jardel (2) , Stéphane Piotrowicz (2) , Jean-Claude Jacquet (2) , Sylvain Laurent (1) , Sylvain Delage (2) , Raymond Quéré (1)

1 XLIM-C2S2 - C2S2
2 III-V Lab - Alcatel-Thales III-V Lab

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]; Electronique

Clément Potier, Audrey Martin, Michel Campovecchio, Olivier Jardel, Stéphane Piotrowicz, et al.. Détection et caractérisation de pièges dans les transistors HEMTs GaN via l’étude de la dispersion en fréquence de la conductance de sortie . Journées Nationales Microondes JNM, Jun 2015, BORDEAUX, France. pp.424-427. ⟨hal-01165690⟩