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Communication dans un congrès

Détection et caractérisation de pièges dans les transistors HEMTs GaN via l’étude de la dispersion en fréquence de la conductance de sortie

Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01165690
Contributeur : Michel Campovecchio Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : vendredi 19 juin 2015 - 17:32:31
Dernière modification le : mercredi 22 décembre 2021 - 11:58:03

Identifiants

  • HAL Id : hal-01165690, version 1

Collections

Citation

Clément Potier, Audrey Martin, Michel Campovecchio, Olivier Jardel, Stéphane Piotrowicz, et al.. Détection et caractérisation de pièges dans les transistors HEMTs GaN via l’étude de la dispersion en fréquence de la conductance de sortie . Journées Nationales Microondes JNM, Jun 2015, BORDEAUX, France. pp.424-427. ⟨hal-01165690⟩

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