Simple Creep Parameters Extraction in Metal Contact RF-MEMS Switches - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Simple Creep Parameters Extraction in Metal Contact RF-MEMS Switches

(1) , (1) , (1) , (1) , (2) , (2)
1
2
Emilien Lemoine
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 930557
Arnaud Pothier
Aurelian Crunteanu
Pierre Blondy
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 915831
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01244994 , version 1 (16-12-2015)

Identifiants

Citer

Emilien Lemoine, Arnaud Pothier, Aurelian Crunteanu, Pierre Blondy, Laurent Marchand, et al.. Simple Creep Parameters Extraction in Metal Contact RF-MEMS Switches. International Microwave Symposium (IMS) 2015, IEEE MTT-S International, May 2015, Phoenix, United States. ⟨10.1109/MWSYM.2015.7167008⟩. ⟨hal-01244994⟩

Collections

UNILIM CNRS XLIM
173 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook Twitter LinkedIn More