Simple Creep Parameters Extraction in Metal Contact RF-MEMS Switches

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Contributeur : Arnaud Pothier <>
Soumis le : mercredi 16 décembre 2015 - 15:17:58
Dernière modification le : mardi 12 novembre 2019 - 14:06:03

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Emilien Lemoine, Arnaud Pothier, Aurelian Crunteanu, Pierre Blondy, Laurent Marchand, et al.. Simple Creep Parameters Extraction in Metal Contact RF-MEMS Switches . International Microwave Symposium (IMS) 2015, IEEE MTT-S International, May 2015, Phoenix, United States. ⟨10.1109/MWSYM.2015.7167008⟩. ⟨hal-01244994⟩

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