Simple Creep Parameters Extraction in Metal Contact RF-MEMS Switches

Emilien Lemoine 1 Arnaud Pothier 1 Aurelian Crunteanu 1 Pierre Blondy 1 Laurent Marchand 2 Nicolas Saillen 2
1 XLIM-MINACOM - MINACOM
XLIM - XLIM
2 European Space Agency
Type de document :
Communication dans un congrès
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https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01244994
Contributeur : Arnaud Pothier <>
Soumis le : mercredi 16 décembre 2015 - 15:17:58
Dernière modification le : mardi 27 août 2019 - 11:54:02

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UNILIM | XLIM

Citation

Emilien Lemoine, Arnaud Pothier, Aurelian Crunteanu, Pierre Blondy, Laurent Marchand, et al.. Simple Creep Parameters Extraction in Metal Contact RF-MEMS Switches . International Microwave Symposium (IMS) 2015, IEEE MTT-S International, May 2015, Phoenix, United States. ⟨10.1109/MWSYM.2015.7167008⟩. ⟨hal-01244994⟩

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