Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
Denis Barataud : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://unilim.hal.science/hal-01287186
Soumis le : samedi 12 mars 2016-01:10:42
Dernière modification le : vendredi 8 mars 2024-10:16:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01287186 , version 1
Citer
Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud. Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN . Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM), May 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287186⟩
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