Lotfi Ayari, Mohammed Ayad, Neveux Guillaume, Denis Barataud, Estelle Byk, et al.. Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT..
19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France.
⟨hal-01287188⟩