Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT.

Lotfi Ayari , Mohammed Ayad , Neveux Guillaume (1) , Denis Barataud (1) , Estelle Byk , Marc Camiade

1 XLIM-C2S2 - C2S2

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]; Electronique; Sciences de l'ingénieur [physics]; Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lotfi Ayari, Mohammed Ayad, Neveux Guillaume, Denis Barataud, Estelle Byk, et al.. Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT.. 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287188⟩