Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT.

Type de document :
Communication dans un congrès
19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. 2015
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Contributeur : Denis Barataud <>
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:24:16
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:32

Identifiants

  • HAL Id : hal-01287188, version 1

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Lotfi Ayari, Mohammed Ayad, Neveux Guillaume, Denis Barataud, Estelle Byk, et al.. Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT.. 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. 2015. 〈hal-01287188〉

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