Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT. - Université de Limoges Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT.

Lotfi Ayari
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 978322
Mohammed Ayad
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 978298
Neveux Guillaume
  • Fonction : Auteur
Denis Barataud
Estelle Byk
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 978299
Marc Camiade
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01287188 , version 1 (12-03-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01287188 , version 1

Citer

Lotfi Ayari, Mohammed Ayad, Neveux Guillaume, Denis Barataud, Estelle Byk, et al.. Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT.. 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287188⟩

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