Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT.

Lotfi Ayari; Mohammed Ayad; Neveux Guillaume; Denis Barataud; Estelle Byk; Marc Camiade

Communication dans un congrès

Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT.

Lotfi Ayari Mohammed Ayad Neveux Guillaume ¹ Denis Barataud ¹ Estelle Byk Marc Camiade

1 XLIM-C2S2 - C2S2

XLIM - XLIM

Type de document :

Communication dans un congrès

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287188
Contributeur : Denis Barataud Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:24:16
Dernière modification le : mercredi 22 décembre 2021 - 11:58:03

Caractérisation temporelle automatisée, sous pointes et orientée Doherty, de transistors GaN HEMT.

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