Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
Denis Barataud : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://unilim.hal.science/hal-01287190
Soumis le : samedi 12 mars 2016-01:29:12
Dernière modification le : vendredi 8 mars 2024-10:16:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01287190 , version 1
Citer
Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud, Jean-Luc Roux, et al.. Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive . 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287190⟩
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