Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive

Agostino Benvegnu; Sylvain Laurent; Raymond Quéré; Denis Barataud; Jean-Luc Roux; Jean-Luc Muraro

Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive

Agostino Benvegnu ¹ Sylvain Laurent ¹ Raymond Quéré ¹ Denis Barataud ¹ Jean-Luc Roux ² Jean-Luc Muraro ³

1 XLIM-C2S2 - C2S2

XLIM - XLIM

2 CNES - Centre National d'Etudes Spatiales

3 TAS - Thales Alenia Space

Type de document :

Communication dans un congrès

19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. 2015

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287190
Contributeur : Denis Barataud <>
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:29:12
Dernière modification le : lundi 2 avril 2018 - 18:30:01

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