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Communication dans un congrès
Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive
Agostino Benvegnu
1
Sylvain Laurent
1
Raymond Quéré
1
Denis Barataud
1
Jean-Luc Roux
2
Jean-Luc Muraro
3
Agostino Benvegnu 1
Auteur Etablissement employeur : XLIM
Sylvain Laurent 1
Auteur
Raymond Quéré 1
Auteur IdHAL : raymond-quere
Denis Barataud 1
Auteur IdHAL : denis-barataud ORCID : https://orcid.org/0000-0002-9479-4731
Jean-Luc Roux 2
Auteur
Jean-Luc Muraro 3
Auteur
1
XLIM-C2S2 - C2S2 (France)
- XLIM - XLIM (123 Avenue Albert THOMAS 87060 LIMOGES CEDEX - France)
- UNILIM - Université de Limoges (33 rue François Mitterrand BP23204 87032 Limoges - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR 7252 (France)
2
CNES - Centre National d'Études Spatiales [Toulouse] (18 avenue Edouard Belin 31401 Toulouse - France)
3
TAS - Thales Alenia Space (TAS Toulouse, 26 Avenue J.F. Champollion, B.P. 1187, 31037 Toulouse Cedex 1 - France)
- THALES (France)
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287190
Contributeur : Denis Barataud Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:29:12
Dernière modification le : mercredi 22 décembre 2021 - 11:58:03
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Identifiants
- HAL Id : hal-01287190, version 1
Citation
Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud, Jean-Luc Roux, et al.. Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive . 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287190⟩
Métriques
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