Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud, Jean-Luc Roux, et al.. Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive .
19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France.
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