Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive

(1) , (1) , (1) , (1) , (2) , (3)
1
2
3
Agostino Benvegnu
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 965673
Sylvain Laurent
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 918010
Raymond Quéré
Denis Barataud
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01287190 , version 1 (12-03-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01287190 , version 1

Citer

Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud, Jean-Luc Roux, et al.. Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive . 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287190⟩

Collections

UNILIM CNRS XLIM
51 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook Twitter LinkedIn More