Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive

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Contributeur : Denis Barataud <>
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:29:12
Dernière modification le : jeudi 16 janvier 2020 - 11:40:12

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  • HAL Id : hal-01287190, version 1

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Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud, Jean-Luc Roux, et al.. Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive . 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287190⟩

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