Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive

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Agostino Benvegnu
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 965673
C2S2
Sylvain Laurent
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 918010
C2S2
Raymond Quéré
C2S2
Denis Barataud
C2S2
Jean-Luc Roux
  • Fonction : Auteur
Centre National d'Études Spatiales [Toulouse]
Jean-Luc Muraro
  • Fonction : Auteur
Thales Alenia Space [Toulouse]

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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Soumis le : samedi 12 mars 2016-01:29:12

Dernière modification le : lundi 4 avril 2022-16:16:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01287190 , version 1 (12-03-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01287190 , version 1

Citer

Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud, Jean-Luc Roux, et al.. Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive . 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287190⟩

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