Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive

Type de document :
Communication dans un congrès
19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. 2015
Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287190
Contributeur : Denis Barataud <>
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:29:12
Dernière modification le : lundi 2 avril 2018 - 18:30:01

Identifiants

  • HAL Id : hal-01287190, version 1

Collections

Citation

Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud, Jean-Luc Roux, et al.. Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive . 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM),, Jun 2015, Bordeaux, France. 2015. 〈hal-01287190〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

181