Poster De Conférence
Année : 2015
Denis Barataud : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287548
Soumis le : dimanche 13 mars 2016-18:19:18
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:02
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01287548 , version 1
Citer
Agostino Benvegnu, Enrico Zanoni, Denis Barataud, Jean-Luc Roux, Jean-Luc Muraro, et al.. Reliability investigation of Gallium Nitride transistors for space applications. Electrical modeling of degradation phenomena under RF stress
. Workshop "DEFIS-RF & Systèmes intégrés et sécurisés", Apr 2015, LIMOGES, France. 2015, Workshop "DEFIS-RF & Systèmes intégrés et sécurisés". ⟨hal-01287548⟩
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