40 GHz / 150 ns versatile pulsed measurement system for microwave transistor isothermal characterization

Jean-Pierre Teyssier; Philippe Bouysse; Zineb Ouarch; Denis Barataud

doi:10.1109/22.739281

Article dans une revue

40 GHz / 150 ns versatile pulsed measurement system for microwave transistor isothermal characterization

Jean-Pierre Teyssier ¹ Philippe Bouysse ¹ Zineb Ouarch ¹ Denis Barataud ¹

1 IRCOM - Institut de Recherche en Communications Optiques et Microondes

Keywords : microwave measurement microwave transistors pulse measurement semiconductor device measurement

Type de document :

Article dans une revue

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287610
Contributeur : Denis Barataud <>
Soumis le : dimanche 13 mars 2016 - 23:20:25
Dernière modification le : mardi 28 avril 2020 - 09:28:02

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