40 GHz / 150 ns versatile pulsed measurement system for microwave transistor isothermal characterization - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques Année : 1998

40 GHz / 150 ns versatile pulsed measurement system for microwave transistor isothermal characterization

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Denis Barataud  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : dimanche 13 mars 2016-23:20:25

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:02

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Dates et versions

hal-01287610 , version 1 (13-03-2016)

Identifiants

Citer

Jean-Pierre Teyssier, Philippe Bouysse, Zineb Ouarch, Denis Barataud. 40 GHz / 150 ns versatile pulsed measurement system for microwave transistor isothermal characterization. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 1998, IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 46 (12), pp.2043-2052. ⟨10.1109/22.739281⟩. ⟨hal-01287610⟩

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