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Brevet
Device and method for remote polarimetric characterisation
Antonello de Martino
1
Dominique Pagnoux
2
Jérémy Vizet
2
Sandeep Manhas
2
Jean-Charles Vanel
1
Stanislas Deby
1
Antonello de Martino 1
Auteur
Dominique Pagnoux 2
Auteur
Jérémy Vizet 2
Auteur
Sandeep Manhas 2
Auteur
Jean-Charles Vanel 1
Auteur
Stanislas Deby 1
Auteur
1
LPICM - Laboratoire de physique des interfaces et des couches minces [Palaiseau] (bat. 408 Route de Saclay 91128 PALAISEAU CEDEX - France)
- X - École polytechnique (École polytechnique, 91128 Palaiseau Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7647 (France)
2
XLIM-PHOT - Photonique Fibre et Sources Cohérentes (XLIM - 123, avenue Albert Thomas - 87060 LIMOGES CEDEX. - France)
- XLIM - XLIM : PHOT (123 Avenue Albert THOMAS 87060 LIMOGES CEDEX - France)
- UNILIM - Université de Limoges : UMR7252 (33 rue François Mitterrand BP23204 87032 Limoges - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7252 (France)
Type de document :
Brevet
Domaine :
Liste complète des métadonnées
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01419714
Contributeur : Dominique Pagnoux <>
Soumis le : lundi 19 décembre 2016 - 18:33:50
Dernière modification le : jeudi 5 mars 2020 - 18:33:54
Contributeur : Dominique Pagnoux <>
Soumis le : lundi 19 décembre 2016 - 18:33:50
Dernière modification le : jeudi 5 mars 2020 - 18:33:54
Identifiants
- HAL Id : hal-01419714, version 1
Collections
UNILIM | CNRS | X | LPICM | XLIM-PHOT | X-PICM | XLIM | UNIV-PARIS-SACLAY | X-DEP-PHYS
Citation
Antonello de Martino, Dominique Pagnoux, Jérémy Vizet, Sandeep Manhas, Jean-Charles Vanel, et al.. Device and method for remote polarimetric characterisation. France, Patent n° : WO 2015/139907 A1 (demande france n°145 2244 ). 2015. ⟨hal-01419714⟩
Métriques
Consultations de la notice
