Nucleation and crystallization of tin oxide nanodots into silica based xerogels. A wide angle x-ray scattering quantitative study - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année :

Nucleation and crystallization of tin oxide nanodots into silica based xerogels. A wide angle x-ray scattering quantitative study

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Soumis le : lundi 1 octobre 2018-12:02:21

Dernière modification le : jeudi 9 février 2023-05:12:00

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Dates et versions

hal-01884705 , version 1 (01-10-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01884705 , version 1

Citer

Benjamin Costille, Elsa Thune, René Guinebretière. Nucleation and crystallization of tin oxide nanodots into silica based xerogels. A wide angle x-ray scattering quantitative study. 19th International sol-gel conference, Sep 2017, Liege, Belgium. ⟨hal-01884705⟩

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