Caractérisation structurale d'interfaces et de couches minces par diffraction des rayons X - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année :

Caractérisation structurale d'interfaces et de couches minces par diffraction des rayons X

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Alexandre Boulle
IRCER - Axe 3 : organisation structurale multiéchelle des matériaux
CV

Domaines

Chimie Matériaux Sciences de l'ingénieur [physics] Matériaux

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https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-02438470

Soumis le : mardi 14 janvier 2020-11:27:24

Dernière modification le : samedi 26 mars 2022-04:30:09

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02438470 , version 1 (14-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02438470 , version 1

Citer

Alexandre Boulle. Caractérisation structurale d'interfaces et de couches minces par diffraction des rayons X. MATV2L Journees 2019 - Milieux 2D, Jan 2019, Blois, France. ⟨hal-02438470⟩

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