Caractérisation structurale d'interfaces et de couches minces par diffraction des rayons X - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année :

Caractérisation structurale d'interfaces et de couches minces par diffraction des rayons X

(1)
1
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02438470 , version 1 (14-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02438470 , version 1

Citer

Alexandre Boulle. Caractérisation structurale d'interfaces et de couches minces par diffraction des rayons X. MATV2L Journees 2019 - Milieux 2D, Jan 2019, Blois, France. ⟨hal-02438470⟩
22 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook Twitter LinkedIn More