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Ultra-Fast (13ns) Low Frequency/Microwave Transient Measurements, Application to GaN Transistors Characterization of Pulse to Pulse Stability

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M. Ben-Sassi
  • Fonction : Auteur
G. Neveux
  • Fonction : Auteur
Denis Barataud
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02556600 , version 1 (28-04-2020)

Identifiants

Citer

M. Ben-Sassi, G. Neveux, Denis Barataud. Ultra-Fast (13ns) Low Frequency/Microwave Transient Measurements, Application to GaN Transistors Characterization of Pulse to Pulse Stability. 2019 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2019, Jun 2019, Boston, United States. pp.1383-1386, ⟨10.1109/MWSYM.2019.8700727⟩. ⟨hal-02556600⟩
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