Accéder directement au contenu Accéder directement à la navigation
Communication dans un congrès

Ultra-Fast (13ns) Low Frequency/Microwave Transient Measurements, Application to GaN Transistors Characterization of Pulse to Pulse Stability

M. Ben-Sassi 1 G. Neveux 1 Denis Barataud 1 
1 XLIM-SRF - Systèmes RF
XLIM - XLIM : SRF
Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-02556600
Contributeur : Denis Barataud Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : mardi 28 avril 2020 - 10:57:00
Dernière modification le : dimanche 26 juin 2022 - 02:49:03

Identifiants

Collections

Citation

M. Ben-Sassi, G. Neveux, Denis Barataud. Ultra-Fast (13ns) Low Frequency/Microwave Transient Measurements, Application to GaN Transistors Characterization of Pulse to Pulse Stability. 2019 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2019, Jun 2019, Boston, United States. pp.1383-1386, ⟨10.1109/MWSYM.2019.8700727⟩. ⟨hal-02556600⟩

Partager

Métriques

Consultations de la notice

24