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Ultra-Fast (13ns) Low Frequency/Microwave Transient Measurements, Application to GaN Transistors Characterization of Pulse to Pulse Stability

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M. Ben-Sassi
  • Fonction : Auteur
Systèmes RF
G. Neveux
  • Fonction : Auteur
Systèmes RF
Denis Barataud
Systèmes RF

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

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https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-02556600

Soumis le : mardi 28 avril 2020-10:57:00

Dernière modification le : mercredi 8 février 2023-17:11:12

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02556600 , version 1 (28-04-2020)

Identifiants

Citer

M. Ben-Sassi, G. Neveux, Denis Barataud. Ultra-Fast (13ns) Low Frequency/Microwave Transient Measurements, Application to GaN Transistors Characterization of Pulse to Pulse Stability. 2019 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2019, Jun 2019, Boston, United States. pp.1383-1386, ⟨10.1109/MWSYM.2019.8700727⟩. ⟨hal-02556600⟩

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