Ultra-Fast (13ns) Low Frequency/Microwave Transient Measurements, Application to GaN Transistors Characterization of Pulse to Pulse Stability

M. Ben-Sassi; G. Neveux; Denis Barataud

doi:10.1109/MWSYM.2019.8700727

Communication dans un congrès

Ultra-Fast (13ns) Low Frequency/Microwave Transient Measurements, Application to GaN Transistors Characterization of Pulse to Pulse Stability

M. Ben-Sassi ¹ G. Neveux ¹ Denis Barataud ¹

1 XLIM-SRF - Systèmes RF

XLIM - XLIM : SRF

Type de document :

Communication dans un congrès

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-02556600
Contributeur : Denis Barataud <>
Soumis le : mardi 28 avril 2020 - 10:57:00
Dernière modification le : mercredi 29 avril 2020 - 01:42:38

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