X-Ray diffraction line broadening by stacking faults in SrBi2Nb2O9/SrTiO3 epitaxial thin films

Alexandre Boulle; C. Legrand; R. Guinebretière; J.P. Mercurio; A. Dauger

doi:10.1016/S0040-6090(01)00975-0

Article dans une revue

X-Ray diffraction line broadening by stacking faults in SrBi2Nb2O9/SrTiO3 epitaxial thin films

Alexandre Boulle ¹ C. Legrand ² R. Guinebretière ¹ J.P. Mercurio ² A. Dauger ¹

1 ENSCI - Ecole Nationale Supérieure de Céramique Industrielle

2 Faculté des Sciences et Techniques de Limoges

Type de document :

Article dans une revue

Domaine :

Chimie / Matériaux

Sciences de l'ingénieur [physics] / Matériaux

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https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-03596492
Contributeur : BEATRICE DERORY Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : jeudi 3 mars 2022 - 16:33:07
Dernière modification le : jeudi 3 mars 2022 - 16:33:07

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