Arrêt de service programmé du vendredi 10 juin 16h jusqu’au lundi 13 juin 9h. Pour en savoir plus
Accéder directement au contenu Accéder directement à la navigation
Article dans une revue

X-Ray diffraction line broadening by stacking faults in SrBi2Nb2O9/SrTiO3 epitaxial thin films

Type de document :
Article dans une revue
Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-03596492
Contributeur : Beatrice Derory Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : jeudi 3 mars 2022 - 16:33:07
Dernière modification le : jeudi 3 mars 2022 - 16:33:07

Lien texte intégral

Identifiants

Collections

Citation

Alexandre Boulle, C. Legrand, R. Guinebretière, J.P. Mercurio, A. Dauger. X-Ray diffraction line broadening by stacking faults in SrBi2Nb2O9/SrTiO3 epitaxial thin films. Thin Solid Films, Elsevier, 2001, 391 (1), pp.42-46. ⟨10.1016/S0040-6090(01)00975-0⟩. ⟨hal-03596492⟩

Partager

Métriques

Consultations de la notice

3