Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2001
BEATRICE DERORY : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-03596492
Soumis le : jeudi 3 mars 2022-16:33:07
Dernière modification le : jeudi 3 mars 2022-16:33:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03596492 , version 1
- DOI : 10.1016/S0040-6090(01)00975-0
Citer
Alexandre Boulle, C. Legrand, R. Guinebretière, J.P. Mercurio, A. Dauger. X-Ray diffraction line broadening by stacking faults in SrBi2Nb2O9/SrTiO3 epitaxial thin films. Thin Solid Films, 2001, 391 (1), pp.42-46. ⟨10.1016/S0040-6090(01)00975-0⟩. ⟨hal-03596492⟩
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