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Article dans une revue
Transmission electron microscopy of NdNiO 3 thin films on silicon substrates
P. Lacorre 2
Auteur
G. van Tendeloo 3
Auteur
1
LPEC - Laboratoire de physique de l'état condensé (Faculté des Sciences Avenue Olivier Messiaen 72085 LE MANS CEDEX 9 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6087 (France)
- UM - Le Mans Université (Avenue Olivier Messiaen - 72085 Le Mans cedex 9 - France)
2
Laboratoire des Fluorures (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UPRES-A 6010 (France)
- Université du Maine [Le Mans - Laval] (Av. Olivier Messiaen, 72085 Le Mans - Campus de Laval : 52 Rue des Docteurs Calmette et Guérin, BP 2045 - 53020 Laval Cedex 09 - France)
3
UA - University of Antwerp (Prinsstraat 13, 2000 Antwerpen - Belgique)
Type de document :
Article dans une revue
Domaine :
Liste complète des métadonnées
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-03597961
Contributeur : Beatrice Derory Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : vendredi 4 mars 2022 - 15:11:03
Dernière modification le : samedi 5 mars 2022 - 03:30:48
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Lien texte intégral
Identifiants
- HAL Id : hal-03597961, version 1
- DOI : 10.1051/epjap:2000171
Collections
UNILIM | UNIV-LEMANS | CNRS
Citation
P. Laffez, R. Retoux, P. Boullay, M. Zaghrioui, P. Lacorre, et al.. Transmission electron microscopy of NdNiO 3 thin films on silicon substrates. European Physical Journal: Applied Physics, EDP Sciences, 2000, 12 (1), pp.55-60. ⟨10.1051/epjap:2000171⟩. ⟨hal-03597961⟩
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