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Transmission electron microscopy of NdNiO 3 thin films on silicon substrates

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https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-03597961
Contributeur : BEATRICE DERORY Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : vendredi 4 mars 2022 - 15:11:03
Dernière modification le : samedi 5 mars 2022 - 03:30:48

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P. Laffez, R. Retoux, P. Boullay, M. Zaghrioui, P. Lacorre, et al.. Transmission electron microscopy of NdNiO 3 thin films on silicon substrates. European Physical Journal: Applied Physics, EDP Sciences, 2000, 12 (1), pp.55-60. ⟨10.1051/epjap:2000171⟩. ⟨hal-03597961⟩

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