Article Dans Une Revue
European Physical Journal: Applied Physics
Année : 2000
BEATRICE DERORY : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://unilim.hal.science/hal-03597961
Soumis le : vendredi 4 mars 2022-15:11:03
Dernière modification le : vendredi 4 août 2023-15:07:36
Citer
P. Laffez, R. Retoux, P. Boullay, M. Zaghrioui, P. Lacorre, et al.. Transmission electron microscopy of NdNiO 3 thin films on silicon substrates. European Physical Journal: Applied Physics, 2000, 12 (1), pp.55-60. ⟨10.1051/epjap:2000171⟩. ⟨hal-03597961⟩
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