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Conference papers

Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur

Résumé : Nous proposons une adaptation de la méthode de mesure du champ lointain pour obtenir une caractérisation résolue spectralement notamment pour des diodes semi- conductrices en régime d’émission spontanée amplifiée. Nous décrivons en détail la méthode de mesure mise en place et présentons les résultats obtenus dans le cas d’une diode à hétérostructure.
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https://hal-ip-paris.archives-ouvertes.fr/hal-03268945
Contributor : Jannik F. Ehlert Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Sunday, July 4, 2021 - 10:12:37 PM
Last modification on : Tuesday, October 19, 2021 - 11:15:02 AM
Long-term archiving on: : Tuesday, October 5, 2021 - 6:13:22 PM

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295 - Ehlert et al. - Caracte...
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  • HAL Id : hal-03268945, version 1

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Jannik F. Ehlert, Alain Mugnier, Frederic Grillot. Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur. OPTIQUE, Jul 2021, Dijon, France. ⟨hal-03268945⟩

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