Caractérisation non destructive de couches minces

Damien Passerieux 1 Jean-Michel Le Floch 2 Dominique Cros 1 Valérie Madrangeas 1 Arnaud Le Febvrier S. Deputier Maryline Guilloux-Viry Michael E. Tobar
1 XLIM-MINACOM - MINACOM
XLIM - XLIM
2 FSM - Frequency standards and metrology
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00734385
Contributeur : Véronique Maury <>
Soumis le : vendredi 21 septembre 2012 - 16:17:58
Dernière modification le : lundi 28 octobre 2019 - 12:50:03

Identifiants

  • HAL Id : hal-00734385, version 1

Collections

CNRS | UNILIM | XLIM

Citation

Damien Passerieux, Jean-Michel Le Floch, Dominique Cros, Valérie Madrangeas, Arnaud Le Febvrier, et al.. Caractérisation non destructive de couches minces. 12èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, Mar 2012, Chambéry, France. pp.Inconnu. ⟨hal-00734385⟩

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