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Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Nonlinear characterization and modeling of low frequency dispersive effects in power transistors

Raymond Quéré
C2S2
O. Jardel
  • Fonction : Auteur
Alain Xiong
  • Fonction : Auteur
C2S2
M. Oualli
  • Fonction : Auteur
Tibault Reveyrand
C2S2
Jean-Pierre Teyssier
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 914307
C2S2
Raphaël Sommet
C2S2
CV
J.C. Jacquet
  • Fonction : Auteur
S. Piotrowicz
  • Fonction : Auteur

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Soumis le : jeudi 29 novembre 2012-15:02:02

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:56

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00758884 , version 1 (29-11-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00758884 , version 1

Citer

Raymond Quéré, O. Jardel, Alain Xiong, M. Oualli, Tibault Reveyrand, et al.. Nonlinear characterization and modeling of low frequency dispersive effects in power transistors. IMS 2009 Workshop, WMB, Jun 2009, Boston - Massachusetts, United States. pp.Inconnu. ⟨hal-00758884⟩

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