Nonlinear characterization and modeling of low frequency dispersive effects in power transistors - Université de Limoges Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Nonlinear characterization and modeling of low frequency dispersive effects in power transistors

Raymond Quéré
O. Jardel
  • Fonction : Auteur
Alain Xiong
  • Fonction : Auteur
M. Oualli
  • Fonction : Auteur
Tibault Reveyrand
Jean-Pierre Teyssier
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 914307
Raphaël Sommet
J.C. Jacquet
  • Fonction : Auteur
S. Piotrowicz
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00758884 , version 1 (29-11-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00758884 , version 1

Citer

Raymond Quéré, O. Jardel, Alain Xiong, M. Oualli, Tibault Reveyrand, et al.. Nonlinear characterization and modeling of low frequency dispersive effects in power transistors. IMS 2009 Workshop, WMB, Jun 2009, Boston - Massachusetts, United States. pp.Inconnu. ⟨hal-00758884⟩

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