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X-ray photoelectron spectroscopy on uranium oxides: a comparison between bulk and thin layers

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https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-03555253
Contributeur : Beatrice Derory Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : jeudi 3 février 2022 - 15:01:42
Dernière modification le : samedi 26 mars 2022 - 04:29:10

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S. van den Berghe, F. Miserque, T. Gouder, B. Gaudreau, M. Verwerft. X-ray photoelectron spectroscopy on uranium oxides: a comparison between bulk and thin layers. Journal of Nuclear Materials, Elsevier, 2001, 294 (1-2), pp.168-174. ⟨10.1016/S0022-3115(01)00461-5⟩. ⟨hal-03555253⟩

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