X-ray photoelectron spectroscopy on uranium oxides: a comparison between bulk and thin layers

S. van den Berghe; F. Miserque; T. Gouder; B. Gaudreau; M. Verwerft

doi:10.1016/S0022-3115(01)00461-5

Article Dans Une Revue Journal of Nuclear Materials Année : 2001

X-ray photoelectron spectroscopy on uranium oxides: a comparison between bulk and thin layers

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S. van den Berghe

Fonction : Auteur

Centre d'Etude de l'Energie Nucléaire

F. Miserque

Fonction : Auteur

T. Gouder

Fonction : Auteur

European Commission - Joint Research Centre [Karlsruhe]

B. Gaudreau

Fonction : Auteur

Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface

M. Verwerft

Fonction : Auteur

Centre d'Etude de l'Energie Nucléaire

Domaines

Chimie Matériaux Sciences de l'ingénieur [physics] Matériaux

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https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-03555253

Soumis le : jeudi 3 février 2022-15:01:42

Dernière modification le : samedi 26 mars 2022-04:29:10

Dates et versions

hal-03555253 , version 1 (03-02-2022)

Identifiants

HAL Id : hal-03555253 , version 1
DOI : 10.1016/S0022-3115(01)00461-5

Citer

S. van den Berghe, F. Miserque, T. Gouder, B. Gaudreau, M. Verwerft. X-ray photoelectron spectroscopy on uranium oxides: a comparison between bulk and thin layers. Journal of Nuclear Materials, 2001, 294 (1-2), pp.168-174. ⟨10.1016/S0022-3115(01)00461-5⟩. ⟨hal-03555253⟩

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