X-ray photoelectron spectroscopy on uranium oxides: a comparison between bulk and thin layers

S. van den Berghe; F. Miserque; T. Gouder; B. Gaudreau; M. Verwerft

doi:10.1016/S0022-3115(01)00461-5

Article dans une revue

X-ray photoelectron spectroscopy on uranium oxides: a comparison between bulk and thin layers

S. van den Berghe ¹ F. Miserque T. Gouder ² B. Gaudreau ³ M. Verwerft ¹

1 SCK-CEN - Centre d'Etude de l'Energie Nucléaire

2 JRC - European Commission - Joint Research Centre [Karlsruhe]

3 SPCTS - Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface

Type de document :

Article dans une revue

Domaine :

Chimie / Matériaux

Sciences de l'ingénieur [physics] / Matériaux

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Contributeur : BEATRICE DERORY Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : jeudi 3 février 2022 - 15:01:42
Dernière modification le : samedi 26 mars 2022 - 04:29:10

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