Caractérisation Large Bande de Matériaux Diélectriques par une Technique en Champ Proche

Résumé : Dans cet article est décrite une technique de microscopie en cham proche pour la caractérisation non destructive large bande [4 GHz - 16 GHz], d'échantillons diélectriques de forme géométrique quelconque mais ayant au moins une surface plane. Un câble coaxial dénudé à ses deux extrémités permet, d'un coté de jouer le rôle de sonde avec une pointe réduite à 70 μm de rayon et de l'autre, de prendre la forme d'une boucle magnétique dédiée à la perturbation des résonances en mode TMmnp de la cavité.
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00929777
Contributeur : Olivier Tantot <>
Soumis le : lundi 13 janvier 2014 - 19:16:32
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:39

Identifiants

  • HAL Id : hal-00929777, version 1

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Citation

Jamal Rammal, Olivier Tantot, Nicolas Delhote, Serge Verdeyme. Caractérisation Large Bande de Matériaux Diélectriques par une Technique en Champ Proche. Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux (13èmes JCMM), Mar 2014, Nantes, France. pp._. ⟨hal-00929777⟩

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