Caractérisation Large Bande de Matériaux Diélectriques par une Technique en Champ Proche
Résumé
Dans cet article est décrite une technique de microscopie en cham proche pour la caractérisation non destructive large bande [4 GHz - 16 GHz], d'échantillons diélectriques de forme géométrique quelconque mais ayant au moins une surface plane. Un câble coaxial dénudé à ses deux extrémités permet, d'un coté de jouer le rôle de sonde avec une pointe réduite à 70 μm de rayon et de l'autre, de prendre la forme d'une boucle magnétique dédiée à la perturbation des résonances en mode TMmnp de la cavité.