Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud. Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN .
Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM), May 2015, Bordeaux, France.
⟨hal-01287186⟩