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Communication dans un congrès

Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287186
Contributeur : Denis Barataud Connectez-vous pour contacter le contributeur
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:10:42
Dernière modification le : mercredi 22 décembre 2021 - 11:58:03

Identifiants

  • HAL Id : hal-01287186, version 1

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Citation

Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud. Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN . Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM), May 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287186⟩

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