Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN

Agostino Benvegnu; Sylvain Laurent; Raymond Quéré; Denis Barataud

Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN

Agostino Benvegnu ¹ Sylvain Laurent ¹ Raymond Quéré ¹ Denis Barataud ¹

1 XLIM-C2S2 - C2S2

XLIM - XLIM

Type de document :

Communication dans un congrès

Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM), May 2015, Bordeaux, France. Thématique 2 : Fiabilité- Packaging, 2015, Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM)

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287186
Contributeur : Denis Barataud <>
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:10:42
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:32

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