Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN - Université de Limoges Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN

Agostino Benvegnu
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 965673
C2S2
Sylvain Laurent
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 918010
C2S2
Raymond Quéré
C2S2
Denis Barataud
C2S2

Domaines

Electronique Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Denis Barataud  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287186

Soumis le : samedi 12 mars 2016-01:10:42

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:02

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01287186 , version 1 (12-03-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01287186 , version 1

Citer

Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud. Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN . Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM), May 2015, Bordeaux, France. ⟨hal-01287186⟩

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