Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN

Agostino Benvegnu; Sylvain Laurent; Raymond Quéré; Denis Barataud

Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN

Agostino Benvegnu ¹ Sylvain Laurent ¹ Raymond Quéré ¹ Denis Barataud ¹

1 XLIM-C2S2 - C2S2

XLIM - XLIM

Type de document :

Communication dans un congrès

Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM), May 2015, Bordeaux, France. Thématique 2 : Fiabilité- Packaging, 2015, Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM)

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287186
Contributeur : Denis Barataud <>
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:10:42
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:32

Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Métriques

123

Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Partager

Métriques

123