Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN

Type de document :
Communication dans un congrès
Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM), May 2015, Bordeaux, France. Thématique 2 : Fiabilité- Packaging, 2015, Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM)
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https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287186
Contributeur : Denis Barataud <>
Soumis le : samedi 12 mars 2016 - 01:10:42
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:32

Identifiants

  • HAL Id : hal-01287186, version 1

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Agostino Benvegnu, Sylvain Laurent, Raymond Quéré, Denis Barataud. Protocole de caractérisations avancées pour l’étude de la fiabilité de transistor GaN . Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM), May 2015, Bordeaux, France. Thématique 2 : Fiabilité- Packaging, 2015, Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM). 〈hal-01287186〉

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