Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2016
Denis Barataud : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://unilim.hal.science/hal-02552061
Soumis le : jeudi 23 avril 2020-11:53:01
Dernière modification le : vendredi 8 mars 2024-10:16:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02552061 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2016.07.122
Citer
A. Benvegnù, S. Laurent, M. Meneghini, R. Quere, J.-L. Roux, et al.. Continuous time-domain RF waveforms monitoring under overdrive stress condition of AlGaN/GaN HEMTs. Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.535-540. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.122⟩. ⟨hal-02552061⟩
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